Dear author,<div><br></div><div><br></div><div><span style="font-family: 'lucida Grande', Verdana; line-height: 23.799999237060547px;">      I 'm working with local atomic arrangement in </span><span style="font-family: 'lucida Grande', Verdana; line-height: 23.799999237060547px;">amorphous</span><span style="font-family: 'lucida Grande', Verdana; line-height: 23.799999237060547px;"> materials by RMCProfile software, and I have some questions so need your help.</span></div><div><span style="font-family: 'lucida Grande', Verdana; line-height: 23.799999237060547px;"><br></span></div><div><span style="font-family: 'lucida Grande', Verdana; line-height: 23.799999237060547px;">      In some references, they indicated traditional X-ray diffraction is difficult to study amorphous materials and they often used neutron diffraction or </span><span style="line-height: 1.5;">synchrotron radiation. In my experiments</span><span style="line-height: 1.5;">, I use traditional Cu target X-ray diffraction (¦Ë=0.154 nm) to acquire structure factor and reduced radial distribution function by pdfgetx3 or RAD software, but I can't employ reverse Monte Carlo simulation to acquire good fit through RMCProfile software, whatever to change parameters. Of course, I have done several different experiments. For the operations of RMCProfile, I basically mastered and I can use software cases to acquire good fit in many conditions even only three files (sf6.dat, sf6.cfg, sf6_reduced.gr). So I doubt my experiment data can't be used for RMC because of the </span><span style="line-height: 1.5;">shortage of </span><span style="line-height: 1.5;">accuracy of </span><span style="line-height: 1.5;">traditional X-ray diffraction. And I hope you can provide some </span>advises about RMC process and X-ray diffraction experiment.</div><div><br></div><div>     Best wishes!</div><div><br></div><div>     H.Wu <span style="line-height: 1.5;"> </span></div><div><br></div>